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光譜鍍層測厚儀
價格
¥13.00
型號
thick800a
品牌
天瑞儀器
所在地
暫無
更新時間
2025-10-10 09:20:39
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產品描述
鍍層測厚儀thick00a是江蘇天瑞
儀器
有限公司開發生產的一種用于鍍鎳設備的x光鍍層測試儀..
天瑞儀器有限公司生產的鍍鎳設備x光鍍層測試儀適用于電鍍檢驗行業的上述五項要求:
(1)可以準確分析鍍膜厚度的檢測和電鍍液的分析;
(2)可快速檢測RoHS有害元素檢測、重金屬檢測、槽液雜質檢測和在線水質監測,檢測環境中重金屬是否標。
同時,它具有以下特點。
快速:1分鐘可測量樣品涂層厚度,滿足測量要求。
方便性:部分型號的X射線
熒光光譜儀
采用了上較早進口的電制冷半導體探測器,能量分辨率優于135eV,測試更高。此外,制冷和定期補充不需要液氮,操作和使用更加方便,運行成本低于其他同類產品。
無損:測試前后,樣品沒有任何形式的變化。
直觀:實時譜圖,可以直觀顯示元素內容。
測試范圍廣:X射線熒光光譜儀是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學結合狀態無關。化學性質上屬于同一科的元素也可以分析,抽真空可以測試從Na到u。
可靠性高:由于測試過程中沒有人為因素的干擾,儀器本身具有很高的分析性、重復性和穩定性。因此,測量可靠性更高。
滿足不同要求:測試軟件為WINDOWS操作系統軟件,操作簡單,功能強大。軟件可以監控儀器狀態,設置儀器參數,有很多的分析方法。工作曲線制作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶、不同樣品的檢測需求。
高:與化學分析儀器相比,X射線熒光光譜儀在整體使用成本上具有優勢,可以被更多的企業和廠家所接受。
簡單:對人員技術要求低,操作維護簡便。
性能特征:
滿足不同厚度和不規則表面樣品的測試要求。
直徑為φ0.1mm的孔徑準直器可以滿足微小測試點的需要。
高移動平臺可以定位測試點,重復定位小于0.005mm。
高度定位激光可以自動定位測試高度。
定位激光確定定位點,以確保測試點與點對齊。
鼠標可以控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點。
高分辨率探頭使分析結果更加準確。
射線屏蔽效果好。
測試端口高度靈敏度的傳感器保護。
技術指標。
類型:Thick800A。
元素分析范圍從硫到鈾。
同時可以分析30多種元素和5種涂料。
分析含量一般為ppm至99.9%。
涂層厚度一般小于50μm(每種材料不同)
任意數量的可選分析和識別模型。
獨立矩陣效應校正模型。
多變量非線性恢復程序
適應范圍為15℃至30℃。
電源:交流220V±5v,建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸:576(w)×495(d)×545(h)mm。
樣品室尺寸:500(w)×350(d)×140(h)mm。
重量:90kg。
標準配置。
打開樣品室。
精密二維移動樣品平臺、探測器、X射線管可上下移動,實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃盾牌。
光譜涂層測厚儀硅針探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
x射線管。
高度傳感器。
保護傳感器。
電腦和噴墨打印機。
應用領域。
金、鉑、銀等貴金屬及各種首飾的測定。
金屬鍍層厚度的測量,電鍍液和鍍層含量的測定。
光譜鍍層測厚儀原廠價格主要用于貴金屬加工和珠寶加工行業;銀行、珠寶銷售和檢測機構;電鍍行業。
測試用例。
鍍鎳裝置是一種常見的電鍍裝置,其鍍鎳層不僅可以保護銅基體免受氧化,還可以起到美觀的作用。這里以客戶提供的鍍銅鍍鎳樣品為例,說明該儀器的測試效果。
在下文中,使用Thick800A儀器在鍍銅-鎳樣品上實際測試了鎳層的厚度,獲得了七次標準偏差和相對標準偏差。并能對樣品進行定位測試,測試位置如圖所示。
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高分辨率探頭使分析結果更加準確。
射線屏蔽效果好。
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技術指標。
類型:Thick800A。
元素分析范圍從硫到鈾。
同時可以分析30多種元素和5種涂料。
分析含量一般為ppm至99.9%。
涂層厚度一般小于50μm(每種材料不同)
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適應范圍為15℃至30℃。
電源:交流220V±5v,建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸:576(w)×495(d)×545(h)mm。
樣品室尺寸:500(w)×350(d)×140(h)mm。
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精密二維移動樣品平臺、探測器、X射線管可上下移動,實現三維移動。
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高低壓電源。
x射線管。
高度傳感器。
保護傳感器。
電腦和噴墨打印機。
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光譜鍍層測厚儀原廠價格主要用于貴金屬加工和珠寶加工行業;銀行、珠寶銷售和檢測機構;電鍍行業。
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鍍鎳裝置是一種常見的電鍍裝置,其鍍鎳層不僅可以保護銅基體免受氧化,還可以起到美觀的作用。這里以客戶提供的鍍銅鍍鎳樣品為例,說明該儀器的測試效果。
在下文中,使用Thick800A儀器在鍍銅-鎳樣品上實際測試了鎳層的厚度,獲得了七次標準偏差和相對標準偏差。并能對樣品進行定位測試,測試位置如圖所示。