日立TM4000Ⅱ掃描電鏡的低真空系統使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 TM4000Ⅱ優化提供5kV、10kV、15kV、20KV四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的SEM-MAP導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納*樣品直徑80mm，厚度50mm。
  TM4000PlusⅡ是在TM4000Ⅱ基礎上增加高靈敏度低真空二次電子探頭UVD，該探頭在低真空環境下具有很好的成像質量。TM4000PlusⅡ可將二次電子圖像和背散射電子圖像疊加并實時進行顯示，獲得*多的樣品信息。TM4000PlusⅡ可以選配Multi Zigzag功能，可實現大范圍自動連續拍照和自動拼圖功能。

主要參數：

1. 觀察條件:5kV/10kV/15kV/20kV（均四檔可調）、EDX
2. 放大倍率：10×~100000×
3. 觀察模式：導體、標準模式，消除電荷模式
4. 探測器：4分割背散射探測器、低真空二次電子探測器（TM4000Plus）

應用領域：生命科學、材料科學、化學、電子制造、食品工業